翔宇辉电子请求根据机器视觉的膜材外表缺点查验测验办法及体系专利完成对膜材盐雾腐蚀初始阶段的快速定位与预警

时间: 2025-08-19 07:31:32 |   作者: 案例展示

  金融界2025年8月8日音讯,国家知识产权局信息显现,深圳市翔宇辉电子科技有限公司请求一项名为“一种根据机器视觉的膜材外表缺点检测的新办法及体系”的专利,公开号CN120451152A,请求日期为2025年07月。

  专利摘要显现,本发明公开了一种根据机器视觉的膜材外表缺点查验测验办法及体系,触及机器视觉技术领域,该办法经过在S3中构建光反射扰动反常指数函数Gpot,使用双视点光源照射下的膜材图画中像素坐标(x,y)的部分反射率差值△Ploc(x,y)、像素坐标(x,y)的部分堆成扰动指数S(x,y)和像素坐标(x,y)的部分灰度方差Wvar(x,y)进行联合建模,增强对微量盐雾堆积所引发的非对称光学扰动的检测灵敏度。相较于传统视觉检测的新办法对前期蚀点呼应缺乏的现状,本发明经过图画中“反射反常与结构扰动”双因子的定量组合,可以有用构成光反射潜蚀图谱,完成对膜材盐雾腐蚀初始阶段的快速定位与预警。

  天眼查资料显现,深圳市翔宇辉电子科技有限公司,成立于2008年,坐落深圳市,是一家以从事批发业为主的企业。企业注册资本1000万人民币。经过天眼查大数据分析,深圳市翔宇辉电子科技有限公司共对外出资了1家企业,参加招投标项目5次,产业线条,此外企业还具有行政许可10个。

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